作者
孙永朋
文章摘要
高温老化筛选属于去除电子元器件早期失效产品的关键工艺，也是保证整机设备可靠性的重要手段。传统的老化筛选条件大多使用固定温度、时间的参数，筛选没有针对性，能耗高，过度老化和筛选不足并存。本文以电子元器件失效机理和加速老化理论为基础，用批量试验分析温度、时长、工作状态对老化筛选效果的影响，得到差异化的高温老化筛选参数体系。试验结果表明，改进后的筛选条件可以有效地排除掉那些潜在的失效元件，缩减筛选时间，削减产品老化损耗和能耗开支，能给电子元器件可靠性筛选工艺升级给予技术参照。
文章关键词
电子元器件；高温老化；筛选条件；失效机理；工艺优化
参考文献
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[2] 张琦,白升旺.高温老化工艺在电子元器件老化测试工作中的应用[J].电子制作,2024,32(4):109-111.
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