半导体制造设备智能监控系统集成与预测性维护

ISSN:3041-0630(P)

EISSN:3041-0606(O)

语言:中文

作者
王德标
文章摘要
本次研究针对半导体制造设备智能监控与预测性维护的技术需求,提出了一种新型集成方案,该方案将设备监控、数据采集、故障诊断与预测性维护四个模块有机结合。通过采用物联网和大数据技术,研究构建了智能传感器网络,用以实时监测设备运行状态,集成了基于机器学习的故障诊断算法,对设备异常进行精准定位。并进一步利用预测性维护模型对设备寿命和故障风险进行预测,从而实现设备维护从“事后反应”向“事前预防”的转变。结果表明,该系统能够显著提升设备故障的预测准确性,降低设备停机时间并延长设备使用寿命。同时,系统具备良好的扩展性和兼容性,能够适配不同类型半导体制造设备。
文章关键词
半导体制造设备;智能监控;预测性维护;物联网;机器学习
参考文献
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